拖尾測量測試卡簡介

拖尾測量測試卡TE175設計用于測量在區(qū)域右側或下方的黑色區(qū)域中的視頻電平引起的干擾。由水平白色線條排列在黑色背景上組成。

拖尾測量的定義

測量由在區(qū)域右側或下方的黑色區(qū)域中的視頻電平引起的干擾。該干擾的特征在于，在恢復對應于黑色的正常視頻電平的視頻電平之前，測量延遲的持續(xù)時間。

測量設備

視頻電平表B / W監(jiān)視器，示波器，低通濾波器：500 KHz

測量條件

必須調整圖表照明，使白條給出平均光圈設置為100％的信號。

增益：0dB

伽馬校準：OFF

輪廓校準：OFF

膝部校準：OFF

基座=標稱視頻電平的5％（= 35 mV）

測量程序

在示波器上顯示穿過白線的線，并在R，G，B輸出端進行測量。重復測量以確認在各種情況下監(jiān)視器上觀察到的條紋性質。為了區(qū)分過曝的效果和條紋的效果，可以將不受穿過白色表面的僅受過曝影響的線的數(shù)目作為參考進行不同的測量。

結果介紹

條紋中黑色電平的最大峰值偏差與條紋外部的相鄰黑色相比。必須小心避免白色條紋的過曝效應。結果以標稱幅度700 mV / 75Ω的百分比給出。