綜合測(cè)試卡是一張測(cè)試卡中含有幾種不同測(cè)試攝像頭性能的圖案。如一張Chart既含有測(cè)試分辨率又含有測(cè)試色彩還原或者更多的功能。測(cè)試鏡頭的整體對(duì)焦及分辨率，調(diào)整鏡頭，檢查鏡頭中心后焦及各區(qū)的幾何畸變失真及分辨率。
綜合測(cè)試卡主要應(yīng)用于綜合檢查攝像機(jī)的各項(xiàng)指標(biāo)，具體指標(biāo)如下：

1、主要測(cè)試電子攝像機(jī)傳輸特性的定位評(píng)估。?

2、部分測(cè)試卡的圓形圖可以對(duì)線性掃描性能進(jìn)行一個(gè)粗略評(píng)估。

3、部分測(cè)試卡有水平與垂直的平行線對(duì)，可以監(jiān)控水平和豎直方向上的線性畸變。

4、楔形光柵可實(shí)現(xiàn)分辨率極限的視覺評(píng)估，也可以觀察到串色干擾。

5、可以用于檢查攝像機(jī)的幾何失真及分辨率。

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各類綜合測(cè)試卡
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YE042 綜合測(cè)試卡

YE005 綜合測(cè)試卡

YE095 ITE分辨率卡

YE0117 通用測(cè)試卡（16：9）

GBT 6996 2012

ISO 12233 CIPA綜合測(cè)試卡

YE06A 棋盤測(cè)試卡?

YE097 高分辨率測(cè)試卡

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詳細(xì)尺寸請(qǐng)參考以下尺寸規(guī)格表：

尺寸對(duì)照表
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噪聲，動(dòng)態(tài)范圍測(cè)試卡：是手機(jī)工程師、芯片工程師、測(cè)試工程師、光學(xué)工程師測(cè)試手機(jī)與數(shù)碼相機(jī)攝像頭性能必用標(biāo)板，可以測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍，噪點(diǎn)，SNR等參數(shù)。具體性能如下：
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1、符合ISO15739標(biāo)準(zhǔn)，用于測(cè)試成像系統(tǒng)的噪點(diǎn)和動(dòng)態(tài)范圍，密度規(guī)定源于ISO14524準(zhǔn)則。甚至可用于測(cè)試不帶手動(dòng)曝光控制裝置的TTL自動(dòng)曝光照相機(jī)。

2、12階密度不一樣的方塊（從第1階黑色至第12階白色）圍成一個(gè)圈。另外三個(gè)不同密度方塊位于中間，用于基本噪聲測(cè)量。6組傾斜調(diào)制棒用于測(cè)量高頻噪聲測(cè)量。調(diào)制棒的密度等于第6階和第7階的密度。

3、內(nèi)部下方有用于在不同密度等級(jí)上檢測(cè)噪聲水平的漸變式密度條，透射式測(cè)試卡全部取原值的一半（常規(guī)屏幕200 ldpi）。
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噪聲、動(dòng)態(tài)范圍測(cè)試卡種類

具體卡的類型有：36階高動(dòng)態(tài)范圍測(cè)試卡、ISO15739噪聲測(cè)試卡、ISO14524 動(dòng)態(tài)范圍測(cè)試卡、噪聲動(dòng)態(tài)范圍測(cè)試卡。